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產(chǎn)品中心臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
更新時(shí)間：2025-04-22
產(chǎn)品型號(hào)：
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澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
更新時(shí)間：2025-04-22產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：405
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
更新時(shí)間：2025-04-22產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：425
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量。
更新時(shí)間：2025-04-22產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：451
澤攸MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
更新時(shí)間：2025-04-22產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：435
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
更新時(shí)間：2025-04-21產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：601
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