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半自動臺階儀 JS100B 國產(chǎn)半自動臺階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。JS100B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時探針掃描時可實時觀察掃描區(qū)域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量

SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無限)旋轉(zhuǎn)冷臺，冷臺傾轉(zhuǎn)角度55°，冷臺溫度≤180℃。

SEM熱電芯片臺可搭配電學(xué)測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng)可以實現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。

PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。