Sensofar 副總裁參與制定新的 ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)

Artigas 博士正全身心地投入在新ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）——表面結(jié)構(gòu)：區(qū)域的制定工作中。ISO 25178將是將3D 表面測(cè)量方法的規(guī)范和測(cè)量納入考量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，并將包含目前適用于非接觸式測(cè)量方法且行業(yè)常用的標(biāo)準(zhǔn)，而之前的標(biāo)準(zhǔn)在ISO 9000質(zhì)量體系框架中至今一直缺少支持質(zhì)量審查的標(biāo)準(zhǔn)。

新標(biāo)準(zhǔn)包含七個(gè)章節(jié)，由NIST（美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所）、NPL（英國(guó)國(guó)家物理實(shí)驗(yàn)室）和PTB（德國(guó)聯(lián)邦物理技術(shù)研究院）等眾多科學(xué)機(jī)構(gòu)編寫(xiě)制定。

ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)包括有關(guān)3D 測(cè)量的基本定義以及可根據(jù)不同現(xiàn)有技術(shù)的分類(lèi)計(jì)算的主要參數(shù)。第6 章的主要內(nèi)容是普遍用于測(cè)量表面的方法和技術(shù)的分類(lèi)，其中Artigas 博士具體描述了成像共聚焦顯微鏡（ICM）的方法。